发明名称 |
缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法,所述缺陷像素检测纠正设备其包括检测模块和纠正模块。所述检测模块区分传感器中的一像素为一缺陷像素,并存储该缺陷像素的位置信息。纠正模块连接至所述检测模块,用来根据所述位置信息确认所述缺陷像素,并纠正所述缺陷像素对应的一数字像素信号。本发明对缺陷像素进行了检测及纠正,并提供已纠正的像素信号,从而提高了画面质量。 |
申请公布号 |
CN101764926B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200910179601.2 |
申请日期 |
2009.09.29 |
申请人 |
凹凸电子(武汉)有限公司 |
发明人 |
马克·王;陈睿 |
分类号 |
H04N5/367(2011.01)I;H04N5/335(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;王璐 |
主权项 |
一种缺陷像素检测纠正设备,与一传感器连接,该传感器中的多个像素的数字像素信号被输入至所述缺陷像素检测纠正设备的平移模块,其特征在于,所述缺陷像素检测纠正设备至少包括:所述平移模块,用于通过增加或减少偏移量来缩放所述数字像素信号,缩放后的数字像素信号被输入至检测模块;所述检测模块,区分该传感器中的多个像素中的缺陷像素,并存储该缺陷像素的位置信息;和纠正模块,连接至所述检测模块,用来根据所述位置信息确认所述缺陷像素,并纠正所述缺陷像素对应的数字像素信号。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市珞瑜路716号华乐商务中心806室 |