发明名称 | 一种非接触式IC卡指令测试系统及方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种非接触式IC卡指令测试系统及方法。测试系统由非接触式协议指令测试套件、上位机测试平台和非接触式IC卡协议指令测试装置构成。测试套件通过上位机测试平台运行测试脚本,测试卡片和测试装置正常通讯后选择执行脚本。脚本中的协议测试指令经上位机测试平台软件经I/O接口传输到测试装置,测试装置中微控制器根据配置的参数及上下文语境将指令传输到读卡机芯片,读卡机芯片通过天线耦合完成与非接触式IC卡的数据交互,将非接触式IC卡响应数据回传至测试装置中的微控制器。微控制器将结果回传给上位机测试平台软件,测试执行者根据协议指令的测试响应,对响应数据进行分析得到测试结果,生成测试报告。 | ||
申请公布号 | CN102479333A | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
申请号 | CN201010558880.6 | 申请日期 | 2010.11.25 |
申请人 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 发明人 | 刘玉军 |
分类号 | G06K17/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K17/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 | 代理人 | 曹立维 |
主权项 | 一种非接触式IC卡指令测试系统,其特征在于所述测试系统包含非接触式协议指令测试套件、上位机测试平台和非接触式IC卡协议指令测试装置。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区碧波路572弄39号 |