发明名称 | 识别特定目标项目的X 射线层析检查系统 | ||
摘要 | 本发明提供了改进的扫描装置,其具有:固定的X射线源,设置为从围绕扫描区域的多个X射线源位置生成X射线;第一探测器组,设置为探测透射穿过所述扫描区域的X射线;以及至少一个处理器,设置为处理来自所述第一探测器组的输出以生成层析图像数据。所述X射线检查系统与其它检查技术结合使用,其它检查技术例如基于NQR的检查、基于X射线衍射的检查、基于X射线反向散射的检查、或者基于追踪探测的检查。 | ||
申请公布号 | CN102483965A | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
申请号 | CN201080033065.6 | 申请日期 | 2010.05.26 |
申请人 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 发明人 | E.J.莫顿 |
分类号 | G21K1/12(2006.01)I | 主分类号 | G21K1/12(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 邸万奎 |
主权项 | 一种识别容器内的对象的系统,包括:a、第一检查系统,包括:i.固定的X射线源,设置为从围绕扫描区域的多个X射线源位置生成X射线;ii第一探测器组,设置为探测透射穿过所述扫描区域的X射线;iii.第二探测器组,设置为探测所述扫描区域内散射的X射线;iv.至少一个处理器,配置为处理来自所述第一探测器组的数据输出并生成至少一个层析图像,以及处理来自所述第二探测器组的数据输出以生成散射图像数据;以及b、第二检查系统,包括基于NQR的检查系统、基于X射线衍射的检查系统、基于X射线反向散射的检查系统、或者基于追踪探测的检查系统中的至少一个。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |