发明名称 |
光学微层析成像的焦平面跟踪 |
摘要 |
一种用于在光学层析成像系统中跟踪对象(414)的方法,其中该对象(414)被包含在具有旋转中心(422)的管(410)中,该对象(414)具有质心(415),且该对象(414)偏离所述旋转中心。通过在所述对象(414)旋转时穿过扩展的景深扫描对象(414)来获得图像数据。根据图像数据来计算所述对象(414)的质心(415)离所述旋转中心的距离值,根据所获得的图像数据来计算旋转角度值(βR)。确定所述对象(414)的广度,将被扫描的扩展的景深限定为小于或等于所述对象(414)的广度,从而提高产生的伪投影图像中的图像分辨率。 |
申请公布号 |
CN101536016B |
申请公布日期 |
2012.05.30 |
申请号 |
CN200780041453.7 |
申请日期 |
2007.09.11 |
申请人 |
华盛顿大学 |
发明人 |
M·E·福韦;E·J·赛贝尔;M·G·梅耶尔;A·C·尼尔森;R·J·拉恩;T·诺伊曼;R·H·约翰逊 |
分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
代理人 |
周建秋;王凤桐 |
主权项 |
一种用于在光学层析成像系统中跟踪对象(414)的方法,其中所述对象(414)被包含在具有旋转中心(422)的管(410)中,所述对象(414)具有内管壁(412)及质心(415),且所述对象(414)偏离所述旋转中心,该方法包括以下步骤:通过定焦在所述内管壁(412)上截面处来将焦点设定在初始焦平面F0,在所述截面处所述初始焦平面位于穿过管(410)的中心轴横切所述管(410)的平面上;旋转所述管(410)直到具有质心(415)的感兴趣结构呈现接近所述内管壁(412)中的一个;标记所述感兴趣结构的质心(415);测量所述质心(415)到所述旋转中心的距离a;根据等式Fn=F0+asinβn在每一个旋转角βn计算焦平面Fn的改变hn;以及将hn转换成传送到物镜定位器(421)的信号,该物镜定位器(421)根据所述感兴趣结构的平移的质心(415)来以正弦函数形式移动所述物镜;通过在所述对象(414)旋转时穿过扩展的景深扫描所述对象(414)来获得图像数据;计算所述对象(414)的质心(415)离所述旋转中心的距离值,其中所述距离值是根据所获得的图像数据来计算的;计算在所选择的位置Pn中的所述对象(414)的所述旋转角度值βn,其中所述旋转角度值βn是根据所获得的图像数据来计算的;确定所述对象(414)的广度;以及将被扫描的扩展的景深限定为小于或等于所述对象(414)的广度,从而提高产生的伪投影图像中的图像分辨率。 |
地址 |
美国华盛顿州 |