发明名称 在质谱分析中的功能检查和偏差补偿
摘要 本发明涉及一种用于检查质谱仪(5)的功能的测试方法以及用于补偿在质谱分析中离子产额的偏差的方法,其特征在于,所述方法包括将色谱分离系统(1,2)的洗脱液与具有已知浓度的目标分析物溶液混合,将所述混合物注入质谱仪(5)中,所述质谱仪具有提供信号的检测器,根据所述检测器信号捕捉质谱图,捕捉在集成线(6)上面的集成质谱峰面积(A)和在所述集成峰面积(A)下面的面积(B),并形成面积(A)和(B)的数学关系。所述测试方法从而进一步包括设定用于所述数学关系的阈值,所述阈值指定质谱分析的可接受质量的界限,以所述数学关系与所述设定的阈值的比较为基础,接受或拒绝所述质谱分析。所述补偿方法从而进一步包括评估用于补偿在检测器(5′)中离子产额的偏差的所述质谱图。本发明进一步涉及用于执行所述测试方法或补偿方法的装置。
申请公布号 CN102484030A 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN201080039354.7 申请日期 2010.06.18
申请人 泰肯贸易股份公司 发明人 M·沃格塞;R·盖尔;W·豪格
分类号 H01J49/00(2006.01)I 主分类号 H01J49/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 李玲
主权项 一种用于检查质谱仪(5)的功能的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下工作步骤:(a)将色谱分离系统(1,2)的洗脱液与具有已知浓度的目标分析物溶液混合;(b)将在步骤(a)中所产生的混合物注入质谱仪(5)中,所述质谱仪具有至少一个提供信号的检测器(5’);(c)根据所述检测器信号捕捉质谱图,其中所述质谱图包括所述目标分析物的集成线(6)和质谱峰(7);(d)通过捕捉在所述目标分析物的所述集成线(6)上面的集成质谱峰面积(A)和通过在所述目标分析物的所述集成峰面积(A)下面由来自所述峰集成线(6)的垂直下降线得到的面积(B)来评估所述质谱图;(e)从已确定的质谱面积A和B形成数学关系;(f)确定用于在步骤(e)中形成的所述数学关系的至少一个阈值,其中所述阈值指定质量合格的质谱分析的临界;以及(g)以所述数学关系与已确定的阈值的比较为基础,接受或拒绝样品的质谱分析。
地址 瑞士门内多夫