发明名称 荧光X射线分析装置
摘要 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置,其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值,提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1),其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线,通过分光元件,对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光,通过X射线检测器进行检测,由此,对试样(S)进行分析,该装置包括X射线管(11),该X射线管(11)具有含铬的靶;X射线滤波器(13),其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路,相对来自X射线管(11)的Cr-Kα射线,具有规定的透射率,采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质;比例计数管(18),其具有含氖气或氦气的检测器气体,该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。
申请公布号 CN101416047B 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN200680054176.9 申请日期 2006.11.24
申请人 株式会社理学 发明人 片冈由行;河野久征;山下升;堂井真
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人 刘激扬
主权项 一种荧光X射线分析装置,其对试样照射来自X射线管的一次X射线,通过分光元件对从上述试样发生的荧光X射线进行分光,通过X射线检测器检测,由此,对上述试样进行分析,其特征在于包括:X射线管,该X射线管具有含铬的靶;X射线滤波器,其设置于上述X射线管和上述试样之间的X射线通路,相对来自上述X射线管的Cr‑Kα射线,具有规定的透射率,采用在S‑Kα射线和Cr‑Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质;比例计数管,其具有含氖气的检测器气体;该装置对上述试样中包含的硫磺进行分析。
地址 日本国东京都