| 发明名称 | 半导体分立器件测试设备(ST5000) | ||
| 摘要 | 1.外观设计名称：半导体分立器件测试设备(ST5000)。2.外观设计产品用途：对各类半导体元器件进行测试、筛选。3.外观设计的设计要点：本产品的设计要点在于产品的形状。4.其中，外观设计图的主视图为最能表明设计要点的图片或者照片。5.本产品的仰视图无设计要点，故省略。 | ||
| 申请公布号 | CN301936382S | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
| 申请号 | CN201130442620.8 | 申请日期 | 2011.11.28 |
| 申请人 | 北京信诺达科技有限公司 | 发明人 | 杨良春 |
| 分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | |||
| 地址 | 100013 北京市东城区和平里东街11号122号楼一层东侧 | ||