发明名称 分光测量装置
摘要 本发明提供一种分光测量装置,该分光测量装置包括:发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯;发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED;将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器;让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具;接收透过标准具的光的光接收部;转换可透过标准具的光波长,并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。
申请公布号 CN102478429A 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN201110262087.6 申请日期 2011.09.06
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 舟本达昭
分类号 G01J3/00(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I 主分类号 G01J3/00(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 吴孟秋;梁韬
主权项 一种分光测量装置,其特征在于,该分光测量装置将可见光波长区域的光分光,并且包括:第一光源,发射在所述可见光波长区域中无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光;第二光源,发射在所述可见光波长区域中具有峰值波长的光;光混合器,将从所述第一光源和所述第二光源发射的光混合;波长可变干涉滤波器,所述光混合器混合的光入射至所述波长可变干涉滤波器,并且,所述混合的光的入射光中的特定波长的光透过所述波长可变干涉滤波器;光接收部,接收透过所述波长可变干涉滤波器的光;以及测量控制部,转换透过所述波长可变干涉滤波器的光的波长,并基于所述光接收部接收到的光来测量透过所述波长可变干涉滤波器的光的分光特性。
地址 日本东京