| 发明名称 | 一种平板测厚仪 | ||
| 摘要 | 本实用新型提出一种平板测厚仪，底座上安置处理器端，下探头固定在所述底座上表面，上探头通过连接支架与所述处理器端电连接，所述上探头可上下移动，限位底板水平安置于所述底座上表面，所述限位底板上表面与所述下探头探测部等高。本实用新型通过在底座上安置限位底板，当使用本实用新型一种平板仪时，限位底板可以作为支撑物，使得测量时待测物体更加平稳，使得测量更加方便，测量结果更加精确。 | ||
| 申请公布号 | CN202255334U | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
| 申请号 | CN201120260301.X | 申请日期 | 2011.07.21 |
| 申请人 | 天长市百盛半导体科技有限公司 | 发明人 | 刘宏;林平;张建中 |
| 分类号 | G01B21/08(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 温子云 |
| 主权项 | 一种平板测厚仪，底座(1)上安置处理器端(2)，下探头(7)固定在所述底座(1)上表面，上探头(5)通过连接支架(3)与所述处理器端(2)电连接，所述上探头(5)可上下移动，其特征在于，限位底板(4)水平安置于所述底座(1)上表面，所述限位底板(4)上表面与所述下探头(7)探测部等高。 | ||
| 地址 | 239300 安徽省天长市秦栏镇工业园区百盛路(天长市百盛半导体科技有限公司) | ||