IC测试方法和设备

摘要

测试电路具有移位寄存器电路(76)，用于存储为了测试集成电路核心的指令数据。移位寄存器电路的每一级包括：第一移位寄存器存储元件(32)，用于存储从串行输入(wsi)接收到的信号并以扫描链操作模式将所述信号提供给串行输出(wso)；以及第二并行寄存器存储元件(38)，用于存储来自第一移位寄存器存储元件的信号并以更新操作模式将所述信号提供给并行输出。测试电路还包括多路复用器(70)，用于向移位寄存器电路的串行输入(wsi)发送串行测试输入或向移位寄存器电路(76)的串行输入中发送附加输入(wpi[n])。在优选实施例中，测试电路还包括控制电路(78)，所述控制电路响应于存储在移位寄存器的至少一级中的特定值以产生更新信号，所述更新信号用于将其他移位寄存器级设定为更新操作模式。

主权项

一种测试电路，用于测试集成电路核心或者集成电路核心外部电路，所述测试电路包括：移位寄存器电路(76)，包括用于嵌入式核心测试结构的封装器指令寄存器(WIR)，该封装器指令寄存器包括被配置用于存储测试指令数据，所述移位寄存器电路包括多个级，每个级包括：串行输入(wsi)和串行输出(wso)；第一移位寄存器存储元件(32)，用于存储从串行输入(wsi)接收到的信号，并以扫描链操作模式将所述信号提供给串行输出(wso)；以及第二并行寄存器存储元件(38)，用于存储来自第一移位寄存器存储元件的信号，并以更新操作模式将所述信号提供给并行输出，其中，所述测试电路还包括：封装器边界寄存器，所述封装器指令寄存器根据所述测试指令数据可以对该封装器边界寄存器进行控制；以及多路复用器(70)，用于向移位寄存器电路的串行输入(wsi)发送串行测试输入或者向移位寄存器电路(76)的串行输入发送附加输入(wpi[n])，并且其中所述测试电路还包括用于控制第一更新操作模式的更新信号输入(updatewr)，以及当向串行输入发送附加输入(wpi[n])时使用的第二更新机制。