DISPOSITIVO Y METODO PARA LA DETERMINACION DE CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE NANOCONTACTOS ENTRE UNA NANOESTRUCTURA LONGITUDINAL Y UNA PISTA DE METAL PARA SU CONEXIONADO
摘要
Dispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionado.El dispositivo y método objeto de la invención permiten determinar la resistencia de contacto de un nanocontacto entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para caracterizar dicho nanocontacto y poder estimar su conexionado sin dañar la nanoestructura y sin que la medición se vea afectada por la influencia de resistencias parásitas.
申请公布号
ES2381506(A1)
申请公布日期
2012.05.28
申请号
ES20090000370
申请日期
2009.02.10
申请人
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC)