发明名称 DISPOSITIVO Y METODO PARA LA DETERMINACION DE CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE NANOCONTACTOS ENTRE UNA NANOESTRUCTURA LONGITUDINAL Y UNA PISTA DE METAL PARA SU CONEXIONADO
摘要 Dispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionado.El dispositivo y método objeto de la invención permiten determinar la resistencia de contacto de un nanocontacto entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para caracterizar dicho nanocontacto y poder estimar su conexionado sin dañar la nanoestructura y sin que la medición se vea afectada por la influencia de resistencias parásitas.
申请公布号 ES2381506(A1) 申请公布日期 2012.05.28
申请号 ES20090000370 申请日期 2009.02.10
申请人 CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC) 发明人 SANTANDER VALLEJO, JOAQUIN;CANE BALLART, CARLES;FONSECA CHACHARO, LUIS;FIGUERAS COSTA, EDUARD;GRACIA TORTADES, ISABEL;SABATE VIZCARRA, NEUS;TORRES HERRERO, NURIA;IVANOV, PETER
分类号 B82Y35/00;G01R27/20 主分类号 B82Y35/00
代理机构 代理人
主权项
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