发明名称 3D-Halbleiterspeicherbauelement und Halbleiterbauelementherstellungsverfahren
摘要 <p>Die Erfindung bezieht sich auf ein 3D-Halbleiterspeicherbauelement und auf ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements. Ein 3D-Halbleiterspeicherbauelement der Erfindung beinhaltet Speicherzellen, die in einer Mehrzahl von vertikal auf einem Substrat (190) gestapelten Schichten angeordnet sind, wobei die Speicherzellen durch einen vertikalen Kanal (110), der sich von einem unteren Ende, das unmittelbar benachbart zu dem Substrat liegt und mit einer unteren Nicht-Speicherzelle gekoppelt ist, bis zu einem oberen Ende erstreckt, das mit einer oberen Nicht-Speicherzelle gekoppelt ist, seriell verbunden sind, wobei die Mehrzahl von Schichten kollektiv die treppenförmig gestufte Struktur bildet und jede der Mehrzahl von Schichten einen sukzessiven freigelegten Endteil beinhaltet, der als eine Kontaktstelle (152) dient, wenigstens eine der oberen Nicht-Speicherzellen und der unteren Nicht-Speicherzelle, eine Mehrzahl von vertikal gestapelten Nicht-Speicherzellen beinhaltet, die als ein leitfähiges Stück verbunden sind. Verwendung z. B. in der Halbleiterspeichertechnologie.</p>
申请公布号 DE102011086171(A1) 申请公布日期 2012.05.24
申请号 DE20111086171 申请日期 2011.11.11
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 PARK, SANG-YONG;PARK, JINTAEK;KIM, HANSOO;CHUNG, JUHYUCK;CHO, WONSEOK
分类号 H01L27/115;H01L21/768;H01L21/8247;H01L23/528 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人
主权项
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