发明名称 检测辅助治具
摘要 一种检测辅助治具,用于辅助一信号测试装置对一待测电路板的多个待测点进行信号检测作业,包括:检测座,具有一测试台、立设于该测试台且对应各该待测点的多个探针、及外露于该测试台且对应电性连接各该探针的多个延伸测点,该多个延伸测点用以供该信号测试装置进行信号检测作业;载板,设于该检测座并可相对于该测试台活动升降,该载板具有供定位置放该待测电路板的定位部、及对应各该探针的多个通孔;以及压制件,设于该检测座上,用于压制该待测电路板并驱动该载板下降,以使各该探针通过通孔接触导通对应的待测点。由此可避免在元件引脚密布的待测电路板上找寻待测点的不便。
申请公布号 CN102466737A 申请公布日期 2012.05.23
申请号 CN201010543792.9 申请日期 2010.11.15
申请人 亚旭电脑股份有限公司;亚旭电子科技(江苏)有限公司 发明人 余忠元;付美军;谢青峰
分类号 G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R1/02(2006.01)I
代理机构 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人 程伟;胡冰
主权项 一种检测辅助治具,用于辅助一信号测试装置对一待测电路板的多个待测点进行信号检测作业,其特征在于,包括:检测座,具有一测试台、立设于该测试台且对应各该待测点的多个探针、及外露于该测试台且对应电性连接各该探针的多个延伸测点,该多个延伸测点用以供该信号测试装置进行信号检测作业;载板,设于该检测座并可相对于该测试台活动升降,该载板具有供定位置放该待测电路板的定位部、及对应各该探针的多个通孔;以及压制件,设于该检测座上,用于压制该待测电路板并驱动该载板下降,以使各该探针通过通孔接触导通对应的待测点。
地址 中国台湾台北县