发明名称 | 用来检验底盘测量系统的测量头的基准的方法和装置 | ||
摘要 | 按本发明的用来检验无接触式底盘测量系统的至少两个测量头(2、4)的基准的方法,具有以下步骤:借助所述测量头(2、4)来检测机动车(1)的至少一个几何形状细节(6);在从属于每个测量头(2、4)的坐标系统(K1、K2)中确定所述几何形状细节(6)的起始位置;将所述几何形状细节(6)的起始位置转换到共同的坐标系统(G)中;在所述测量头(2、4)和机动车(1)之间执行相对运动(B1、B2),其中所述测量头(2、4)相互间的相对位置保持不变;借助所述测量头(2、4)检测机动车(1)的至少一个几何形状细节(6);在从属于每个测量头(2、4)的坐标系统(K1、K2)中确定所述至少一个几何形状细节(6)的终止位置;将所述几何形状细节(6)的终止位置转换到所述共同的坐标系统(G)中;在所述共同的坐标系统(G)中,对于其中每个测量头(2、4)从所述至少一个几何形状细节(6)的终止位置和起始位置之间的差异中确定运动矢量(B1、B2);检验用于第一测量头(2)的运动矢量(B1)是否与用于另一测量头(4)或其它测量头(4)的运动矢量(B2)相符。 | ||
申请公布号 | CN101925796B | 申请公布日期 | 2012.05.23 |
申请号 | CN200880125689.3 | 申请日期 | 2008.12.30 |
申请人 | 罗伯特.博世有限公司 | 发明人 | S·亚伯拉罕;D·穆尔 |
分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 宣力伟;梁冰 |
主权项 | 一种用来检验无接触式底盘测量系统的至少两个测量头(2、4)的基准的方法,具有以下步骤:借助所述测量头(2、4)来检测机动车(1)的至少一个几何形状细节(6);在从属于每个测量头(2、4)的坐标系统(K1、K2)中确定所述几何形状细节(6)的起始位置;将所述几何形状细节(6)的起始位置转换到共同的坐标系统(G)中;在所述测量头(2、4)和机动车(1)之间执行相对运动(B1、B2),其中所述测量头(2、4)相互间的相对位置保持不变;借助所述测量头(2、4)检测机动车(1)的至少一个几何形状细节(6);在从属于每个测量头(2、4)的坐标系统(K1、K2)中确定所述至少一个几何形状细节(6)的终止位置;将所述几何形状细节(6)的终止位置转换到所述共同的坐标系统(G)中;在所述共同的坐标系统(G)中,对于其中每个测量头(2、4)从所述至少一个几何形状细节(6)的终止位置和起始位置之间的差异中确定运动矢量(B1、B2);检验用于一个测量头(2)的运动矢量(B1)是否与用于另一测量头(4)或其它测量头(4)的运动矢量(B2)相符。 | ||
地址 | 德国斯图加特 |