发明名称 |
激光加工装置 |
摘要 |
本发明的课题在于确保激光光轴的稳定性。本发明的激光加工装置具备:光源,输出激光;光路调整部,调整该激光的光路;第1分光器,将激光分光;可动台,具有规定的可动区域并载置被加工物;可动台位置检测器,检测可动台的位置;第1光轴位置检测器,检测前述分光所得的激光的光轴位置;载置台,载置前述可动台、可动台位置检测器、和第1光轴位置检测器;光轴控制部,接受来自前述第1光轴位置检测器的输出,控制前述光路调整部,调整前述分光所得的激光的光轴。 |
申请公布号 |
CN101104223B |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN200610101490.X |
申请日期 |
2006.07.10 |
申请人 |
彩霸阳光株式会社 |
发明人 |
奥野雅史;渡部明 |
分类号 |
B23K26/04(2006.01)I;B23K26/067(2006.01)I |
主分类号 |
B23K26/04(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
温大鹏;胡强 |
主权项 |
一种激光加工装置,具备:光源,输出激光;光路调整部,调整该激光的光路;第1分光器,将激光分光;可动台,具有规定的可动区域并载置被加工物;可动台位置检测器,检测可动台的位置;第1光轴位置检测器,检测前述分光所得的激光的光轴位置;载置台,载置前述可动台、可动台位置检测器、和第1光轴位置检测器;光轴控制部,接受来自前述第1光轴位置检测器的输出,控制前述光路调整部,调整前述分光所得的激光的光轴,前述光轴控制部进行模糊控制,所述模糊控制包括如下过程:测定从前述第1光轴位置检测器检测的激光的输出信号的值(s)的过程;计算前述输出信号的时间差分值(S’=(S2‑S1)/(t2‑t1))的过程;计算前述测定的输出信号的值(s)与规定的目标值(S0)的偏差的比例(ΔS)的过程;将按照相对于S’的隶属函数求出的结果、与按照相对于ΔS的隶属函数求出的结果统一化的过程。 |
地址 |
日本东京都 |