| 发明名称 | 阵列基板的检测设备 | ||
| 摘要 | 本实用新型实施例提供一种阵列基板的检测设备，涉及液晶显示器领域，避免了阵列基板的检测设备在检测阵列基板时，漂浮型灰尘颗粒不良的检出，提高了后续修复工艺的效率，降低了生产成本。一种阵列基板的检测设备，包括：光学检测设备，在所述光学检测设备外的至少一侧设置有用于吸除阵列基板上的漂浮型灰尘颗粒的除尘装置。 | ||
| 申请公布号 | CN202230272U | 申请公布日期 | 2012.05.23 |
| 申请号 | CN201120378351.8 | 申请日期 | 2011.09.27 |
| 申请人 | 北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 曹宇;魏广伟;黄雄天;唐涛 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种阵列基板的检测设备，包括：光学检测设备，其特征在于，在所述光学检测设备外的至少一侧设置有用于吸除阵列基板上的漂浮型灰尘颗粒的除尘装置。 | ||
| 地址 | 100176 北京市经济技术开发区西环中路8号 | ||