发明名称 | X-ray自动连续式检测设备 | ||
摘要 | 本发明是提供一种X-ray自动连续式检测设备,至少包括:一X-ray检测装置,其具有一辐射光源及一信号处理器,其信号处理器是用以接收辐射光源所产生的能量输出信号;载带,其穿设于辐射光源与信号处理器间,以供X-ray检测装置进行检测,而该载带具有至少一等间距排列的容置槽,以收容芯片元件;以及,一分析系统,电连接该信号处理器,用以分析芯片元件的品质;借此,于X-ray检测装置一可容许的检测区域内,一次检测多个载带上的芯片元件,而可提高检测的效率。 | ||
申请公布号 | CN102466648A | 申请公布日期 | 2012.05.23 |
申请号 | CN201010545555.6 | 申请日期 | 2010.11.16 |
申请人 | 邱鸿智 | 发明人 | 邱鸿智 |
分类号 | G01N23/18(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/18(2006.01)I |
代理机构 | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人 | 张俊阁 |
主权项 | 一种X‑ray自动连续式检测设备,其特征在于,其至少包括:一个X‑ray检测装置,具有一个辐射光源及一个信号处理器,该信号处理器用以接收辐射光源所产生的能量输出信号,且该X‑ray检测装置两侧分别开设有一个入孔及出孔;载带,两端分别穿设于该X‑ray检测装置的入孔及出孔,并置于辐射光源与信号处理器之间以供X‑ray检测装置进行检测,而该载带具有数个等间距排列以收容芯片元件的容置槽;以及,分析系统,电连接该信号处理器以分析芯片元件的品质。 | ||
地址 | 中国台湾台北县 |