发明名称 铁损测试仪的测试状态识别装置及其识别方法
摘要 本发明涉及一种硅钢片铁心损耗测量技术领域,特别是涉及一种铁损测试仪识别测试探头是否脱离硅钢片试样的识别装置及其识别方法,它包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地,微控制器8的工作程序采用C语言编制,在微控制器工作程序的控制下,能够自动识别测试探头是否脱离硅钢片试样,从而提高了测试探头的使用周期和测试质量。
申请公布号 CN101806844B 申请公布日期 2012.05.23
申请号 CN201010116184.X 申请日期 2010.03.02
申请人 浙江工业大学 发明人 顾伟驷;苏英俩;余佩琼;杭亮
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R21/08(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 杭州浙科专利事务所 33213 代理人 吴秉中
主权项 铁损测试仪的测试状态识别方法,其特征在于所述方法是采用以下步骤实现的:(1)由写入微控制器内的程序向数模转换器输出控制指令,使数模转换器产生正弦波信号;(2)正弦波信号经过功率放大器驱动初级线圈;(3)模数转换器通过采样电阻采样初级线圈的电流;(4)模数转换器将采样得到的电流数据输送至微控制器,微控制器对输入的电流数据进行内部程序处理,判断测试探头是否脱离硅钢片试样;(5)判断测试探头是否脱离硅钢片试样:a.当测试探头与硅钢片试样紧密接触时,正弦波信号经过初级线圈产生磁场,并在测试探头与硅钢片试样之间形成磁回路,这时初级线圈的电流远小于30毫安;b.当测试探头脱离硅钢片试样时,测试探头与硅钢片试样之间没有形成磁回路,此时流经初级线圈的电流大于30毫安;(6)当识别出测试探头脱离硅钢片试样后,微控制器输出控制指令,关闭数模转换器,使得初级线圈中无电流经过;上述铁损测试仪的测试状态识别方法所采用的识别装置包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大器和采样电阻,所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地。
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