用参考光纤布拉格光栅监控和测量偏振保持光纤内器件的光学性质的方法及由此制作的光纤部件

摘要

本发明提供一种利用写入到偏振保持(PM)光纤的窄带光纤布拉格光栅(FBG)，测量和监控该PM光纤的偏振态(SOP)及类似物的方法。该PM光纤包括第一窄带参考FBG，该第一窄带参考FBG被用作测量和监控PM光纤的SOP的参考。由于PM光纤的双折射性质，参考FBG通常反射两个窄带光谱，一个沿慢轴的窄带光谱和一个沿快轴的窄带光谱，每个窄带光谱具有一个中心波长。通过测量反射光谱沿每个轴的强度，并通过用偏振控制器调节光纤，可以将光纤调节到预定的SOP。在将PM光纤调节到预定SOP之后，可以根据该预定SOP精确测量第二光栅或另一光学器件的光学性质。本发明的方法还可以被有利地用来精确测量反射率。

主权项

一种测量偏振保持光纤的偏振态的方法，所述方法包括：提供所述偏振保持光纤，所述偏振保持光纤确定一慢轴和一快轴，所述光纤具有一取向；将窄带参考光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述窄带参考光纤布拉格光栅具有第一反射光谱和第一透射光谱；通过所述光纤发送光束；探测所述窄带参考光纤布拉格光栅的所述第一透射光谱或所述第一反射光谱；测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第一峰的第一强度，所述第一峰与所述光纤的所述慢轴相关；测量所述第一透射光谱或第一反射光谱的第二峰的第二强度，所述第二峰与所述光纤的所述快轴相关；通过比较所述第一强度和所述第二强度，确定所述光纤的所述偏振态；将第二光纤布拉格光栅写入到所述光纤，所述第二光纤布拉格光栅具有第二反射光谱和第二透射光谱，所述第二反射光谱不同于所述第一反射光谱，所述第二透射光谱不同于所述第一透射光谱；测量所述第二光纤布拉格光栅的至少一个光学性质。