发明名称 |
用来保护蓄电池的半导体单元、内置该半导体单元的电池组、以及使用该电池组的电子装置 |
摘要 |
一种用来保护蓄电池的半导体单元,包括:电流检测端子,其当为蓄电池充电时将充电电流转换为相对于蓄电池的负电极电势(地电势)的负电压,当为蓄电池放电时将放电电流转换为相对于蓄电池的负电极电势(地电势)的正电压,并且检测充电/放电电流;以及测试信号生成电路,其当电流检测端子的电压下降到不会在半导体单元的正常操作状态下发生的第一负电压时生成第一测试信号,并且当电流检测端子的电压下降到低于第一负电压的第二负电压时生成第二测试信号。 |
申请公布号 |
CN101375479B |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN200780003166.7 |
申请日期 |
2007.08.31 |
申请人 |
株式会社理光 |
发明人 |
后藤智幸 |
分类号 |
H02H7/18(2006.01)I;H02J7/00(2006.01)I;H01M10/44(2006.01)I |
主分类号 |
H02H7/18(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
黄小临 |
主权项 |
一种通过检测过充电、过放电、充电过电流、放电过电流、或短路电流来保护蓄电池的半导体单元,包括:电流检测端子,其当为蓄电池充电时将充电电流转换为相对于蓄电池的负电极电势即地电势的负电压,当为蓄电池放电时将放电电流转换为相对于蓄电池的负电极电势的正电压,并且检测充电/放电电流;以及测试信号生成电路,其当电流检测端子的电压下降到不会在半导体单元的正常操作状态下发生的第一负电压时生成第一测试信号,并且当电流检测端子的电压下降到低于第一负电压的第二负电压时生成第二测试信号,其中:测试信号生成电路至少包含:CMOS配置的第一反相器电路,其中出于生成第一测试信号的目的,将第一反相器电路的负电源端子连接到电流检测端子,并且将第一反相器电路的输入端子连接到地电势或者预定电势;以及CMOS配置的第二反相器电路,其中出于生成第二测试信号的目的,将第二反相器电路的负电源端子连接到电流检测端子,并且将第二反相器电路的输入端子连接到地电势或者预定电势。 |
地址 |
日本东京都 |