发明名称 |
次声检测设备及检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种次声检测设备及检测方法,该检测设备包括光输入装置、分光镜、反射镜、检测镜、光检测元件及信号处理装置;检测镜通过次声振动环安装于基座上,检测镜与光输入装置相对,反射镜与光检测元件相对,检测镜与光输入装置的连线相对于反射镜与光检测元件的连线垂直,且检测镜与光输入装置的连线、反射镜与光检测元件的连线均相对于分光镜成45度角;光检测元件与信号处理装置电气连接。本发明结构简单,灵敏度高、抗干扰能力强。 |
申请公布号 |
CN101788331B |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN201010102146.9 |
申请日期 |
2010.01.25 |
申请人 |
黄万平 |
发明人 |
黄万平;黄斌;郑辉;许湘苗;林晓虹 |
分类号 |
G01H9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01H9/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
谢伟;曾旻辉 |
主权项 |
一种次声检测设备,其特征在于,包括光输入装置、分光镜、反射镜、检测镜、光检测元件及信号处理装置;检测镜通过次声振动环安装于基座上,检测镜与光输入装置相对,反射镜与光检测元件相对,检测镜与光输入装置的连线相对于反射镜与光检测元件的连线垂直,且检测镜与光输入装置的连线、反射镜与光检测元件的连线均相对于分光镜成45度角;光检测元件与信号处理装置电气连接;在所述分光镜与所述检测镜之间设有补偿镜,补偿镜的厚度与所述分光镜的厚度相同,且补偿镜与所述分光镜平行。 |
地址 |
510006 广东省广州市番禺区大学城外环西路378号华南师范大学城校区 |