电子探针试验用样品承载与位置调节支架

摘要

本实用新型属于夹具技术领域，涉及一种针对于电子探针试验用样品承载与位置调节支架。调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。本实用新型采用铜套与调节板的结构，可承载最大至Φ82×17mm大小不等的样品，并利用调节板的高度调节样品分析面的位置，增加了电子探针分析样品取样大小的灵活性，特别适用于某些不宜或不易破坏的分析样品，直接将样品本身放入样品室进行无损伤试验。

主权项

一种电子探针试验用样品承载与位置调节支架，其特征是，调节支架包括底盘、外框、铜套、调节板、限位块、螺纹顶柱，每个限位块上设有二组螺纹顶柱和一个螺纹杆，两个限位块用第一组螺纹顶柱固定在底盘的两侧，外框放置在底盘上并用第二组螺纹顶柱将外框与底盘固定在一起，底盘底部开有燕尾槽；外框的中部开有通孔，铜套置于外框的通孔中，螺纹杆顶在铜套上，铜套与调节板螺纹连接；调节板的底部开有调节槽。