| 发明名称 | 超声波检查用探头及超声波检查装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种超声波检查用探头及超声波检查装置，其不受检查对象的内面形状的影响，在维持探伤能力的同时可以谋求缩短探伤所需的时间。该超声波检查用探头设置有第一探头(21)及第二探头(22)，该第一探头及第二探头排列有向被检测体(T)发射超声波并且检测从被检测体(T)反射的超声波的多个振子。第一探头(21)配置在比第二探头(22)更靠近被检测体(T)中的缺陷这一侧，第一探头(21)产生在被检测体(T)的与配置有第一探头(21)及第二探头(22)的表面(T2)相反的一侧的里面(T5)传播的纵波超声波及自表面(T2)朝向被检测体(T)的内部传播的横波超声波。第二探头(22)产生在表面(T2)传播的纵波超声波及自表面(T2)朝向被检测体(T)的内部传播的纵波超声波。 | ||
| 申请公布号 | CN102472729A | 申请公布日期 | 2012.05.23 |
| 申请号 | CN201080032305.0 | 申请日期 | 2010.08.12 |
| 申请人 | 三菱重工业株式会社 | 发明人 | 松本拓俊;清水正嗣;青木清隆;辻伸一 |
| 分类号 | G01N29/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 岳雪兰 |
| 主权项 | 一种超声波检查用探头，其特征在于，设置有第一探头及第二探头，该第一探头及第二探头排列有向被检测体发射超声波并且检测从所述被检测体反射的超声波的多个振子，所述第一探头配置在比所述第二探头更靠近所述被检测体中的缺陷这一侧，所述第一探头产生在所述被检测体的与配置有所述第一探头及第二探头的表面相反的一侧的里面传播的纵波超声波及自所述表面朝向所述被检测体的内部传播的横波超声波，所述第二探头产生在所述表面传播的纵波超声波及自所述表面朝向所述被检测体的内部传播的纵波超声波。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||