发明名称 |
半导体存储装置 |
摘要 |
本发明公开了半导体存储装置。目的在于:降低整个存储器在半导体基板所占的面积。具有多层次比特线结构的半导体存储装置包括存储单元、和放大通过比特线从存储单元读出的信号的放大电路。单元N阱区域和放大电路N阱区域连续地形成着,在该单元N阱区域中形成上述存储单元的P沟道晶体管,在该放大电路N阱区域中形成上述放大电路的P沟道晶体管。 |
申请公布号 |
CN101207129B |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN200710160024.3 |
申请日期 |
2007.12.20 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
车田希总;石仓聪;寺野登志夫 |
分类号 |
H01L27/11(2006.01)I;G11C11/41(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/11(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
季向冈 |
主权项 |
一种具有多层次比特线结构的半导体存储装置,其包括存储单元和放大电路,该放大电路将通过比特线从存储单元读出的信号放大,其特征在于:单元N阱区域和放大电路N阱区域连续地形成着,在该单元N阱区域中形成上述存储单元的P沟道晶体管,在该放大电路N阱区域中形成上述放大电路的P沟道晶体管,隔着基板触点N阱区域连续地形成上述单元N阱区域和放大电路N阱区域,上述单元N阱区域的宽度和基板触点N阱区域的宽度相等。 |
地址 |
日本大阪府 |