发明名称 |
实现XANES分析的方法和设备 |
摘要 |
用于将样品曝露到高能辐射的紧凑、低功耗系统和方法,例如将样品曝露到用于实现X射线吸收近边缘分析(XANES)的X射线。该系统和方法包括一个低功耗的辐射源,例如一个X射线管;一个或多个用于对指向被分析样品的辐射能量加以导向和改变的可调节晶体光学部件;以及一个用于探测由该样品发射的辐射的辐射探测器件,例如一个X射线探测器。这一个或多个可调节晶体光学部件可以是双重弯曲晶体光学部件。该系统的部件可以被排列在同一条直线上。所公开的系统和方法特别适用于XANES分析,例如生物过程中铬或其他过渡金属的化学状态的分析。 |
申请公布号 |
CN1829910B |
申请公布日期 |
2012.05.23 |
申请号 |
CN200480021932.9 |
申请日期 |
2004.06.02 |
申请人 |
X射线光学系统公司 |
发明人 |
陈泽武;沃尔特·吉布森 |
分类号 |
G01N23/00(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/00(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
刘炳胜 |
主权项 |
一种用于执行X射线吸收近边缘结构分析的系统,该系统包括:用于将具有第一能量的X射线导向到一个样品的聚焦双重弯曲X射线光学部件装置;用于探测该样品被曝露到X射线时由该样品发射的、具有第二能量的X射线的装置;以及用于改变被导向到该样品的X射线的第一能量的装置,其中由该样品发射的X射线的第二能量也随之变化,而且与该样品的X射线吸收光谱的近边缘结构有关的信息能够通过部分地分析所探测的X射线的第二能量的变化来获得;以及其中用于导向X射线的装置包括一个点聚焦的双重弯曲X射线光学部件;并且其中该X射线光学部件包括一个可调节X射线光学部件,而且其中用于改变被导向到该样品的X射线的第一能量的装置包括用于调节该可调节X射线光学部件的装置;以及其中调节该X射线光学部件包括x‑x调节或者x‑2x调节。 |
地址 |
美国纽约 |