发明名称 |
一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法 |
摘要 |
本发明提供了一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,属于石油勘探、开发领域领域。本发明依据孔隙度测井测量原理,通过分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,给出了在高矿化度泥浆滤液、低孔低渗气藏中识别气层、水层的方法。本发明提供的基于低孔低渗储层的气、水层识别方法易于实施,可操作性强,识别直观、清晰;利用本发明可以在节约成本的同时大大提高气层流体识别的准确度;在现场实际中应用范围很广,不论是低孔低渗的火山岩还是碳酸盐和砂泥岩,本发明均具有很强的可操作性。 |
申请公布号 |
CN102454398A |
申请公布日期 |
2012.05.16 |
申请号 |
CN201010522927.3 |
申请日期 |
2010.10.28 |
申请人 |
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
发明人 |
李浩;魏修平 |
分类号 |
E21B47/00(2012.01)I;E21B49/00(2006.01)I |
主分类号 |
E21B47/00(2012.01)I |
代理机构 |
北京思创毕升专利事务所 11218 |
代理人 |
刘明华 |
主权项 |
一种适用于低孔低渗储层的气、水层识别方法,其特征在于:所述方法基于孔隙度测井的测量原理,分析影响测井孔隙度曲线值大小的因素,然后对于低孔低渗储层中的气层,重构含气识别组合曲线,在气层实现孔隙度的重新有序排列;对于低孔低渗储层中的水层,考虑泥浆滤液矿化度对中子孔隙度的影响;最终获得所研究地区的储层分类识别依据。 |
地址 |
100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号 |