一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法

摘要

本发明提供了一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法，属于测定岩石样品有机成分分析领域。本装置包括激光器、显微镜、样品池、高温氧化炉、冷阱以及同位素质谱仪等。在显微镜下观察找出置于样品池内的有机显微组分，通过激光剥蚀使其气化释放，释放的有机组分经高温氧化炉被氧化成二氧化碳和水，二氧化碳在冷阱内被富集，然后载气携带二氧化碳进入同位素质谱仪进行检测分析，从而确定各种有机质显微组分的同位素值。利用本装置，有效地避免了不同岩石组成成分同位素的混合，提高了地质解释精度，提供了更有针对性的有机地球化学信息，更好地为油气地质勘探服务。

主权项

一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置，其特征在于：所述显微组分激光剥蚀同位素分析装置包括显微激光剥蚀系统、氧化富集系统和分析系统；所述显微激光剥蚀系统包括激光器、显微镜和样品池；所述激光器与所述显微镜组装在同一台面上，所述激光器产生的激光光束通过所述显微镜的光路调整折射镜折射到显微镜的样品台上；所述样品池置于所述样品台上，所述样品池设有进气口和排气口；所述氧化富集系统包括进样器、富集用载气装置、氧化装置、进样用载气装置和富集器；所述富集用载气装置包括富集用载气源，所述富集用载气源通过管路与所述样品池的进气口相连通；所述氧化装置为高温氧化炉，所述高温氧化炉的进口端通过管路与所述样品池的排气口相连通，出口端与所述进样器相连通；所述进样用载气装置包括进样用载气源，所述进样用载气源通过管路与所述进样器相连通；所述富集器采用冷阱，所述冷阱与所述进样器相连通；所述分析系统采用同位素质谱仪；所述显微激光剥蚀系统与所述氧化富集系统连通，氧化富集系统再与同位素质谱仪连通；样品在所述显微激光剥蚀系统中被剥蚀，产生的气态有机组分进入氧化富集系统，经反应后生成的二氧化碳再进入同位素质谱仪中进行在线分析，从而确定各种有机质显微组分的同位素值。