| 发明名称 | 检查电路的方法以及检查电路的系统 | ||
| 摘要 | 一种检查电路的方法和系统。该系统包括：第一表面，第二表面，第三表面，以及多目标传送器；其中该多目标传送器适于抓住放置在该第一表面上的预检查电路，抓住放置在该第二表面上的在前检查的电路，并且同时将该预检查电路传送到该第二表面以及将该在前检查的电路传送到该第三表面；其中该系统适于检查放置在该第二表面上的电路。 | ||
| 申请公布号 | CN101430362B | 申请公布日期 | 2012.05.16 |
| 申请号 | CN200610130977.0 | 申请日期 | 2006.12.15 |
| 申请人 | 卡姆特有限公司 | 发明人 | 埃维·列维;拉菲·阿米特 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 郭思宇 |
| 主权项 | 一种用于检查电路的系统，包括：第一表面，第二表面，第三表面，以及多目标传送器；其中所述多目标传送器适于抓住放置在所述第一表面上的预检查电路，适于抓住放置在所述第二表面上的在前检查的电路，并且适于同时将所述预检查电路传送到所述第二表面以及将所述在前检查的电路传送到所述第三表面；其中所述系统适于检查放置在所述第二表面上的电路。 | ||
| 地址 | 以色列米格达勒埃梅克 | ||