发明名称 |
X射线检测装置 |
摘要 |
本发明涉及一种X射线检测装置(1),包括:半导电的X射线检测构件(15),设置有第一和第二电极接头(22、24);第一和第二电线(16、17),分别连接至第一和第二电极接头(22、24);包括组织等效材料的剂量调节元件(10、10a、10b),其中,剂量调节元件(10、10a、10b)被布置成由组织等效材料围绕检测构件(15);以及屏蔽构件(6),配置成为检测构件(15)提供电屏蔽并保护检测构件(15)不暴露于光。本发明的特征在于第一电极接头(22)被定位成与第二电极接头(24)位于检测构件(15)的同一侧面上。 |
申请公布号 |
CN102460212A |
申请公布日期 |
2012.05.16 |
申请号 |
CN200980159671.X |
申请日期 |
2009.06.05 |
申请人 |
RTI电子公司 |
发明人 |
拉尔斯·赫恩斯多夫;比约恩·塞德奎斯特;托马斯·本特松 |
分类号 |
G01T1/02(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
X射线检测装置(1),包括:‑半导电的X射线检测构件(15),设置有第一和第二电极接头(22、24);‑第一和第二电线(16、17),分别连接至所述第一和第二电极接头(22、24);‑包括组织等效材料的剂量调节元件(10、10a、10b),其中,所述剂量调节元件(10、10a、10b)被布置成由组织等效材料围绕所述检测构件(15);以及‑屏蔽构件(6),被配置成为所述检测构件(15)提供电屏蔽并保护所述检测构件(15)不暴露于光,其特征在于,所述第一电极接头(22)被定位成与所述第二电极接头(24)位于所述检测构件(15)的同一侧面上。 |
地址 |
瑞典默恩达尔 |