发明名称 X射线检测装置
摘要 本发明涉及一种X射线检测装置(1),包括:半导电的X射线检测构件(15),设置有第一和第二电极接头(22、24);第一和第二电线(16、17),分别连接至第一和第二电极接头(22、24);包括组织等效材料的剂量调节元件(10、10a、10b),其中,剂量调节元件(10、10a、10b)被布置成由组织等效材料围绕检测构件(15);以及屏蔽构件(6),配置成为检测构件(15)提供电屏蔽并保护检测构件(15)不暴露于光。本发明的特征在于第一电极接头(22)被定位成与第二电极接头(24)位于检测构件(15)的同一侧面上。
申请公布号 CN102460212A 申请公布日期 2012.05.16
申请号 CN200980159671.X 申请日期 2009.06.05
申请人 RTI电子公司 发明人 拉尔斯·赫恩斯多夫;比约恩·塞德奎斯特;托马斯·本特松
分类号 G01T1/02(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 G01T1/02(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 X射线检测装置(1),包括:‑半导电的X射线检测构件(15),设置有第一和第二电极接头(22、24);‑第一和第二电线(16、17),分别连接至所述第一和第二电极接头(22、24);‑包括组织等效材料的剂量调节元件(10、10a、10b),其中,所述剂量调节元件(10、10a、10b)被布置成由组织等效材料围绕所述检测构件(15);以及‑屏蔽构件(6),被配置成为所述检测构件(15)提供电屏蔽并保护所述检测构件(15)不暴露于光,其特征在于,所述第一电极接头(22)被定位成与所述第二电极接头(24)位于所述检测构件(15)的同一侧面上。
地址 瑞典默恩达尔