发明名称 可对多待测板进行测试之测试装置
摘要 一种测试装置,适于测试至少一待测板。此测试装置包括一远端连接单元、至少一可编程测试板以及一主控电脑。可编程测试板连接至远端连接单元,而主控电脑是连接至远端连接单元。待测板适于连接至可编程测试板,且可编程测试板具有一可编程系统晶片。主控电脑内存有预设的多个测试流程,且主控电脑适于根据待测板的种类来选取对应待测板的测试流程,并控制可编程测试板对待测板进行测试。此测试装置能降低测试成本且能减少测试时间。
申请公布号 TWI363941 申请公布日期 2012.05.11
申请号 TW097116024 申请日期 2008.04.30
申请人 环旭电子股份有限公司 中国;环鸿科技股份有限公司 南投县草屯镇太平路1段351巷141号 发明人 蔡竹青
分类号 G05B19/05;G06F9/44 主分类号 G05B19/05
代理机构 代理人 杨代强 台北市中正区思源街18号A栋2楼206室
主权项
地址 南投县草屯镇太平路1段351巷141号