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发明名称
可对多待测板进行测试之测试装置
摘要
一种测试装置,适于测试至少一待测板。此测试装置包括一远端连接单元、至少一可编程测试板以及一主控电脑。可编程测试板连接至远端连接单元,而主控电脑是连接至远端连接单元。待测板适于连接至可编程测试板,且可编程测试板具有一可编程系统晶片。主控电脑内存有预设的多个测试流程,且主控电脑适于根据待测板的种类来选取对应待测板的测试流程,并控制可编程测试板对待测板进行测试。此测试装置能降低测试成本且能减少测试时间。
申请公布号
TWI363941
申请公布日期
2012.05.11
申请号
TW097116024
申请日期
2008.04.30
申请人
环旭电子股份有限公司 中国;环鸿科技股份有限公司 南投县草屯镇太平路1段351巷141号
发明人
蔡竹青
分类号
G05B19/05;G06F9/44
主分类号
G05B19/05
代理机构
代理人
杨代强 台北市中正区思源街18号A栋2楼206室
主权项
地址
南投县草屯镇太平路1段351巷141号
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