发明名称 |
一种多层金属-氮化硅-金属电容及其制作方法 |
摘要 |
一种多层金属-氮化硅-金属电容器,其特征在于,具有若干层低k值介质和氮化硅的混合层,每一层混合层中包括:在水平方向上交替分布的若干低k值介质区和若干高k值氮化硅区;每个低k值介质区上具有第一金属槽,所述第一金属槽中填充有金属;每个高k值氮化硅区上具有若干第二金属槽,所述若干第二金属槽中均填充有金属。发明通过提高层间和层内电容器的电介质的k值,有效地提高层间和层内电容器的电容。通过改善高k值氮化硅的性能,有效地改善金属-氮化硅-金属(MOM)电容器的击穿电压、漏电流等各电特性,以及各器件间的电学均匀性。 |
申请公布号 |
CN102446981A |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN201110359861.5 |
申请日期 |
2011.11.15 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
毛智彪;胡友存;徐强 |
分类号 |
H01L29/92(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/92(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种多层金属‑氮化硅‑金属电容器,其特征在于,具有若干层低k值介质和氮化硅的混合层,每一层混合层中包括:在水平方向上交替分布的若干低k值介质区和若干高k值氮化硅区;每个低k值介质区上具有第一金属槽,所述第一金属槽中填充有金属;每个高k值氮化硅区上具有若干第二金属槽,所述若干第二金属槽中均填充有金属。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |