发明名称 |
一种去除金属层冗余金属填充的制造工艺 |
摘要 |
本发明提供一种去除金属层冗余金属填充的制造工艺。其工艺步骤如下:1)沉积低k值介质层;2)在沉积的低k值介质层上形成硬掩模层;3)对硬掩模层进行光刻和刻蚀;4)进行导线金属和冗余金属的填充,完成金属层沉积;5)对金属层进行化学机械研磨;6)继续化学机械研磨低k值介质层和金属混合层,进一步去除冗余金属。本方法通过一种在制作单大马士革和双大马士革金属互连中利用化学机械研磨进一步去除冗余金属的工艺,可以有效地减少或消除冗余金属填充引入的金属层内和金属层间的耦合电容,非常适于实用。 |
申请公布号 |
CN102446825A |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN201110285091.4 |
申请日期 |
2011.09.23 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
毛智彪;胡友存;戴韫青;王剑 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种去除金属层冗余金属填充的制造工艺,其特征在于,其工艺步骤如下:1)沉积低k值介质层;2)在沉积的低k值介质层上形成硬掩模层;3)对硬掩模层进行光刻和刻蚀;4)进行导线金属和冗余金属的填充,完成金属层沉积;5)对金属层进行化学机械研磨;6)继续化学机械研磨低k值介质层和金属混合层,进一步去除冗余金属。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |