发明名称 |
非易失性存储元件以及其制造方法 |
摘要 |
提供一种能够抑制电阻值不均匀的电阻变化型的非易失性存储元件。本发明的非易失性存储元件具有:硅基板(11);下部电极层(102),形成在硅基板(11)上;电阻变化层,形成在下部电极层(102)上;上部电极层(104),形成在电阻变化层上;第二层间绝缘层(19),以至少覆盖下部电极层(102)、电阻变化层的侧面而形成;压力缓和区域层(105),使用比用于第二层间绝缘层(19)的绝缘层应力小的材料以至少直接覆盖上部电极层(104)的上表面以及侧面的方式来进行设置,缓和针对上部电极层(104)的应力;第二触点(16)到达上部电极层(104)而形成;以及,布线图案(18),与第二触点(16)相连接。 |
申请公布号 |
CN102449763A |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN201180002264.5 |
申请日期 |
2011.03.07 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
川岛良男;三河巧;早川幸夫 |
分类号 |
H01L27/105(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I;H01L49/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/105(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈萍;高迪 |
主权项 |
一种非易失性存储元件,具有:基板;下部电极层,形成在所述基板上;第一电阻变化层,由金属氧化物构成,形成在所述下部电极层上;第二电阻变化层,形成在所述第一电阻变化层上,并且由与所述第一电阻变化层相比缺氧度小的金属氧化物构成;上部电极层,形成在所述第二电阻变化层上;层间绝缘层,以至少覆盖所述下部电极层、所述第一电阻变化层以及所述第二电阻变化层的侧面的方式来形成;压力缓和区域层,使用与所述层间绝缘层所使用的绝缘层相比应力小的材料,以至少直接覆盖所述上部电极层的上表面以及侧面的方式来设置,缓和针对所述上部电极层的应力;触点,以到达上部电极层的方式来形成;以及布线图案,与所述触点连接。 |
地址 |
日本大阪府 |