发明名称 非易失性存储元件以及其制造方法
摘要 提供一种能够抑制电阻值不均匀的电阻变化型的非易失性存储元件。本发明的非易失性存储元件具有:硅基板(11);下部电极层(102),形成在硅基板(11)上;电阻变化层,形成在下部电极层(102)上;上部电极层(104),形成在电阻变化层上;第二层间绝缘层(19),以至少覆盖下部电极层(102)、电阻变化层的侧面而形成;压力缓和区域层(105),使用比用于第二层间绝缘层(19)的绝缘层应力小的材料以至少直接覆盖上部电极层(104)的上表面以及侧面的方式来进行设置,缓和针对上部电极层(104)的应力;第二触点(16)到达上部电极层(104)而形成;以及,布线图案(18),与第二触点(16)相连接。
申请公布号 CN102449763A 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CN201180002264.5 申请日期 2011.03.07
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 川岛良男;三河巧;早川幸夫
分类号 H01L27/105(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I;H01L49/00(2006.01)I 主分类号 H01L27/105(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈萍;高迪
主权项 一种非易失性存储元件,具有:基板;下部电极层,形成在所述基板上;第一电阻变化层,由金属氧化物构成,形成在所述下部电极层上;第二电阻变化层,形成在所述第一电阻变化层上,并且由与所述第一电阻变化层相比缺氧度小的金属氧化物构成;上部电极层,形成在所述第二电阻变化层上;层间绝缘层,以至少覆盖所述下部电极层、所述第一电阻变化层以及所述第二电阻变化层的侧面的方式来形成;压力缓和区域层,使用与所述层间绝缘层所使用的绝缘层相比应力小的材料,以至少直接覆盖所述上部电极层的上表面以及侧面的方式来设置,缓和针对所述上部电极层的应力;触点,以到达上部电极层的方式来形成;以及布线图案,与所述触点连接。
地址 日本大阪府