发明名称 |
硬币静态电磁特征测试方法及装置 |
摘要 |
硬币静态电磁特征测试方法及装置,将两只测试线圈平行放置,一只线圈一端与另一线圈的异名端相连,串联相连线圈的一端接振荡电路晶体管T1集电极,另一端接R1、R2、C1、C2、C3的共同连接点处;当硬币未置入测试线圈时,单片机测试LC振荡电路的频率、即整形电路输出的频率f0和LC振荡电路交变信号的幅度、即整流滤波电路输出的电压V0,反映了硬币未进入电磁场时,LC振荡电路状态;当硬币置入测试线圈后,单片机再次测试LC振荡电路的频率、即整流滤波电路输出的电压V;每一种真币都对应一组静态电磁特征参量,即:Δf、r、ΔV;单片机将测试的电磁特征参量与机内存储的真币特征量相比较,确定该币是某币值真币或伪币。 |
申请公布号 |
CN102446374A |
申请公布日期 |
2012.05.09 |
申请号 |
CN201010297850.4 |
申请日期 |
2010.09.30 |
申请人 |
南京大学 |
发明人 |
黄来友 |
分类号 |
G07D5/08(2006.01)I;G01N27/90(2006.01)I |
主分类号 |
G07D5/08(2006.01)I |
代理机构 |
南京天翼专利代理有限责任公司 32112 |
代理人 |
陈建和 |
主权项 |
硬币静态电磁特征测试方法,其特征是将两只测试线圈平行放置,一只线圈一端与另一线圈的异名端相连,串联相连线圈的一端接振荡电路晶体管T1集电极,另一端接R1、R2、C1、C2、C3的共同连接点处;当硬币未置入测试线圈时,单片机测试LC振荡电路的频率、即整形电路输出的频率f0和LC振荡电路交变信号的幅度、即整流滤波电路输出的电压V0,它们反映了硬币未进入电磁场时,LC振荡电路的初始状态;当硬币置入测试线圈后,单片机再次测试LC振荡电路的频率、即整形电路输出的频率f和LC振荡电路交变信号的幅度、即整流滤波电路输出的电压V;计算:Δf=f‑f0 <mrow> <mi>r</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>Δf</mi> <msub> <mi>f</mi> <mn>0</mn> </msub> </mfrac> <mo>×</mo> <mn>100</mn> <mo>%</mo> </mrow>ΔV=V‑V0每一种真币都对应一组静态电磁特征参量,即:Δf、r、ΔV;单片机将测试的电磁特征参量与机内存储的真币特征量相比较,确定该币是某币值真币或伪币。 |
地址 |
210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号 |