基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法

摘要

本发明提出一种基于PLD、FPGA器件的动态边界扫描链路的测试方法，将动态边界扫描链路链接器(DSCL，Dynamic Scan Chain Linker)采用HDL RIL代码例化到一个可编程器件之内，实现边界扫描测试时多    个扫描链路的动态加载和卸载，从而灵活的对边界扫描电路进行测试，所述DSCL含有一个IEEE1149.1 TAP状态机，一个指令寄存器，一个标识符寄存器，一个链路控制寄存器，一个RTI同步寄存器，一个旁路寄存器和一个链路链接器，使测试机可以透过测试访问端口TAP实现对链路控制寄存器的控制，而链路链接器会依据链路控制寄存器的值来对挂接在供链接的扫描端口LSP上的扫描链路实施链接。

主权项

一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法，测试系统包括测试机，至少一个可编程器件，以及待测试的边界扫描链路，其特征在于：所述动态边界扫描链路测试方法包括如下步骤：步骤1、将边界扫描链路链接器DSCL例化到可编程器件之内；步骤2、动态地链接所需要测试的边界扫描链路；步骤3、进行测试其中，所述的扫描链路链接器DSCL包括一个IEEE1149.1测试访问端口TAP状态机，一个指令寄存器，一个标识符寄存器，一个链路控制寄存器，一个RTI同步寄存器，一个旁路寄存器和一个链路链接器，一组测试访问端口TAP和N组供链接扫描端口LSP；所述的动态地链接所需测试的边界扫描链路的过程如下：步骤a：测试机使用异步复位机制或使用同步复位机制，使所述的TAP状态机进入测试逻辑重设置状态，此时DSCL的同步机制使得所有挂接在LSP上待测扫描链路进入测试逻辑重设置状态，与此同时链路控制寄存器清零，即所有的LSP将被卸载；步骤b：测试机控制所述的TAP状态机至SCAN‑IR，设置所述指令寄存器的值为SCANSEL；步骤c：测试机控制所述TAP状态机至SCAN‑DR，由于在步骤2已设置所述指令寄存的值为SCANSEL，根据测试需求，设置所述的链路控制寄存器；步骤d：当所述TAP状态机状态流转为UPDATE‑DR后，所述的链路控制寄存器生效，所述TAP状态机和LSP端口所链接的边界扫描链路的TAP状态机开始同步，链路的拓扑也随之发生改变。