发明名称 一种测试射频模块上行通道增益和隔离度的方法
摘要 本发明公开了一种测试射频模块上行通道增益和隔离度的系统及方法,所述系统由带TD-SCDMA选件的信号源和测试设备组成,所述测试设备包括数据转换模块、接收信号强度指示计算模块、测试结果输出模块。本发明在确定基准射频模块在基准输入功率P_ref下的上行通道基准增益G_ref以及对应的基准接收信号强度指示RSSI_ref后,由所述带TD-SCDMA选件的信号源向被测射频模块的指定上行通道发送功率为基准输入功率P_ref的信号,由所述测试设备根据被测射频模块的输出信号计算出当前接收信号强度指示RSSI_now,计算被测设备模块的上行通道增益为G_ref+(RSSI_now-RSSI_ref)。
申请公布号 CN1731714B 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CN200510098553.6 申请日期 2005.09.02
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 李蕾
分类号 H04B17/00(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人 王漪;霍育栋
主权项 一种测试射频模块上行通道增益和隔离度的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:确定基准射频模块在基准输入功率P_ref下的上行通道基准增益G_ref以及对应的基准接收信号强度指示RSSI_ref;由带TD‑SCDMA选件的信号源向被测射频模块的指定上行通道发送功率为基准输入功率P_ref的信号;接收信号强度指示测试设备根据被测射频模块的输出信号计算出当前接收信号强度指示RSSI_now;计算被测射频模块的上行通道增益为G_ref+(RSSI_now‑RSSI_ref)。
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