发明名称 光扫描装置及激光指标器
摘要 本发明的目的是提供一种能配置在笔状的细长结构物上的光扫描装置及激光指标器。光扫描装置具备光源、从上述光源照射的光所透过的透镜、使通过了透镜的光反射的反射部件、以及用于扫描由上述反射部件反射的光的反光镜,上述光扫描装置使上述反光镜摇动而向与上述光的照射方向相同的方向射出上述光,上述反射部件具备朝向上述光源侧的第一反射面、以及朝向上述光的出射面侧的第二反射面,上述光源和上述透镜在该光扫描装置的外壳的长度方向上并列地配置,上述反光镜和上述反射部件在上述外壳的宽度方向上并列地配置。
申请公布号 CN102445753A 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CN201110305985.5 申请日期 2011.09.30
申请人 三美电机株式会社 发明人 田中丰树;西山隆彦
分类号 G02B26/10(2006.01)I;G02B27/20(2006.01)I 主分类号 G02B26/10(2006.01)I
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人 张敬强;李家浩
主权项 一种光扫描装置,具备:光源;从上述光源照射的光所透过的透镜;使通过了上述透镜的光反射的反射部件;以及用于扫描由上述反射部件反射的光的反光镜,并且上述光扫描装置使上述反光镜摇动并向与上述光的照射方向相同的方向射出上述光,其特征在于,上述反射部件具备:朝向上述光源侧的第一反射面;以及朝向上述光的出射面侧的第二反射面,上述光源和上述透镜在该光扫描装置的外壳的长度方向上并列地配置,上述反光镜和上述反射部件在上述外壳的宽度方向上并列地配置。
地址 日本东京都