| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Durchführung einer röntgendiffraktrometrischen Analyse einer kristallinen und/oder amorphen Probe, mittels eines röntgenoptischen Aufbaus mit einer Röntgenquelle, die eine aus einer Mischanordnung mindestens zweier Metalle aufgebaute Röntgenanode aufweist, und dadurch gekennzeichnet ist, dass ein energiedispersiver Halbleiterdetektor zur Aufnahme von Zählereignissen aus der von der Probe kommenden Röntgenstrahlung verwendet wird, und dass von der Probe gebeugte oder gestreute Röntgenstrahlung mit unterschiedlichen charakteristischen Energielinien, die zu den Metallen der verwendeten Mischanordnung der Röntgenanode gehören, simultan während eines Winkelscans aufgenommen wird. Mit diesem Verfahren sind röntgendiffraktometrische Untersuchungen mit mehreren charakteristischen Energielinien möglich, ohne dass ein Umbau oder ein Umschalten nötig ist. |
