发明名称 一种介质损耗电流测试仪的工作方法
摘要 本发明公开了一种在准同步DFT基础上改进实现的高精度的介质损耗电流测试仪的工作方法。该方法包括:同时采样被试件上施加的电压信号V和流过的电流信号I;应用可变栅栏准同步DFT谐波分析技术获取施加电压的基波相角<img file="201110322628x100004dest_path_image002.GIF" wi="116" he="43" />;应用可变栅栏准同步DFT谐波分析技术获取被试件中流过的电流信号基波初相角<img file="201110322628x100004dest_path_image004.GIF" wi="99" he="44" />;根据公式<img file="201110322628x100004dest_path_image006.GIF" wi="191" he="22" />计算介质损耗角正切。本发明的介质损耗电流测试仪的工作方法,适于有效改进准同步DFT谐波分析技术的分析误差,获得高精度的谐波分析结果,从而提高介质损耗电流测试的可靠性。
申请公布号 CN102435860A 申请公布日期 2012.05.02
申请号 CN201110322628.X 申请日期 2011.10.21
申请人 江苏技术师范学院 发明人 傅中君;侯雪亚
分类号 G01R27/26(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 常州市江海阳光知识产权代理有限公司 32214 代理人 汤志和
主权项 1.一种介质损耗电流测试仪的工作方法,其特征在于包括以下步骤:(1)、介质损耗电流测试仪的CPU同时采样被试件上施加的电压信号V和电流信号I,并分别对电压信号V和电流信号I等间隔采样W+2个采样点数据:{f(i),i=0,1,…,w+1};(2)、所述CPU从所述电压信号V的采样点i=0开始应用准同步DFT公式:<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="280" he="104" />分析W+1个数据获得基波信息<img file="659664DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="36" he="42" />和<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="36" he="42" />;所述CPU从所述电压信号V的采样点i=1开始应用准同步DFT公式:<img file="514488DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="354" he="119" />分析W+1个数据获得基波信息<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="95" he="32" />;应用公式:<img file="294225DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="264" he="77" />,计算所述电压信号V的频率漂移<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE007.GIF" wi="13" he="16" />;应用公式:<img file="125653DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="233" he="98" />,得出所述电压信号V的基波的实部<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE009.GIF" wi="21" he="16" />和虚部<img file="877708DEST_PATH_IMAGE010.GIF" wi="14" he="22" />,然后计算出所述电压信号V的基波初相角<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE011.GIF" wi="116" he="43" />;(3)、所述CPU从所述电流信号I的采样点i=0开始应用准同步DFT公式:<img file="700170DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="280" he="104" />分析W+1个数据获得基波信息<img file="904887DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="36" he="42" />和<img file="103787DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="36" he="42" />;所述CPU从电流信号I的采样点i=1应用准同步DFT公式:<img file="772666DEST_PATH_IMAGE012.GIF" wi="354" he="119" />分析W+1个数据获得基波信息<img file="15297DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="95" he="32" />;应用公式:<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE013.GIF" wi="250" he="73" />,计算所述电流信号I的频率漂移<img file="707310DEST_PATH_IMAGE007.GIF" wi="13" he="16" />;应用公式:<img file="444321DEST_PATH_IMAGE014.GIF" wi="233" he="98" />,分别得出所述电流信号I的基波的实部<img file="967707DEST_PATH_IMAGE009.GIF" wi="21" he="16" />和虚部<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE015.GIF" wi="14" he="22" />,然后计算出所述电流信号I的基波初相角<img file="851347DEST_PATH_IMAGE016.GIF" wi="99" he="44" />;(4)、所述CPU根据公式<img file="201110322628X100001DEST_PATH_IMAGE017.GIF" wi="191" he="22" />计算介质损耗角正切,并输出显示。
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