发明名称 |
取样探头 |
摘要 |
本发明提供了一种取样探头,包括探头本体,探头本体包括探头筒体和探头上盖,还包括探头筒体的外壁上加热带和设置于探头筒体和加热带之间的温控器感温棒。通过加热带对探头筒体进行加热,探头筒体随加热带温度的升高而升高,从而保证探头筒体内被测气体保持在其自身的工作温度,以保证采样的准确性。加热带与探头筒体之间设置有温控器感温棒,其能够对探头筒体外壁上的温度进行测量,进而监测出探头筒体经加热带加热后到达的实时温度,以对探头筒体的温度进行操控。本发明通过加热带和温控器感温棒共同完成对探头本体温度的控制,实现了取样适应不同温度环境的需要,增加取样探头使用环境的灵活性。 |
申请公布号 |
CN102435470A |
申请公布日期 |
2012.05.02 |
申请号 |
CN201110382168.X |
申请日期 |
2011.11.25 |
申请人 |
北京雪迪龙科技股份有限公司 |
发明人 |
陈华申 |
分类号 |
G01N1/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
逯长明 |
主权项 |
一种取样探头,包括探头本体,所述探头本体包括探头筒体(12)和探头上盖(14),其特征在于,还包括:加热带(10),其设置于所述探头筒体(12)的外壁上;温控器感温棒(15),其设置于所述探头筒体(12)和所述加热带(10)之间。 |
地址 |
102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号 |