发明名称 | 微观元素多参数分析设备和方法 | ||
摘要 | 本发明提出了一种分析微观元素的设备(DA),这种设备包括:第一,需分析的微观元素的测量空间(CM);第二,至少一个提供在测量空间(CM)内联合在一起的射线的光源(S),所述射线具有至少两个不同的分析波长,用来与测量空间(CM)内的微观元素交互作用,以形成交互作用射线;第三,在测量空间(CM)的上游用不同的码对射线进行编码的编码装置(M);第四,对荧光和/或扩散的交互作用射线根据它们的波长进行选择性滤波的滤光装置(FO);第五,将来自测量空间(CM)的交互作用射线的至少一部分变换成电信号的检测装置(DE,DF);以及第六,包括对电信号进行解码的解码装置(DRE,DRE)的分析装置(MA),用来确定表示所分析的微观元素的数据。 | ||
申请公布号 | CN101194159B | 申请公布日期 | 2012.05.02 |
申请号 | CN200680020823.4 | 申请日期 | 2006.04.14 |
申请人 | 奥里巴ABX股份有限公司(简单形式) | 发明人 | 菲利普·纳瑞;迪迪尔·勒菲弗 |
分类号 | G01N15/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 郭思宇 |
主权项 | 一种用于分析微观元素的设备(DA),包括需分析的微观元素的测量空间(CM);至少一个能提供辐射的光源(S),所述辐射具有至少两个不同的分析波长,用来与在所述测量空间(CM)内的所述微观元素交互作用以便形成荧光交互作用辐射和/或散射交互作用辐射;用来将来自所述测量空间(CM)的荧光交互作用辐射和/或散射交互作用辐射的至少一部分变换成电信号的检测装置(DE,DF);以及用来分析所述电信号以确定表示所分析的微观元素的数据的分析装置(MA);其特征在于:‑所述设备(DA)包括i)用来在所述测量空间(CM)的上游以不同的码(ωi)对所述辐射进行编码的编码装置(M),经编码的所述辐射在所述测量空间(CM)内联合在一起,以及ii)用来在所述检测装置(DE,DF)的上游对所述荧光交互作用辐射和/或散射交互作用辐射根据它的波长进行选择性滤波的滤光装置(FO,LS);‑所述分析装置(MA)包括用来对所述电信号进行解码的解码装置(DRE,DRF),以便根据它们原来的代码进行分析;以及所述光源(S)所提供的每个分析辐射(Ri)光束的强度(Ii)是可调的。 | ||
地址 | 法国蒙彼利埃 |