发明名称 |
sistema de teste e método de testagem do mesmo |
摘要 |
SISTEMA DE TESTE E MéTODO DE TESTAGEM DO MESMO. Sistema de testes e um método de testagem são revelados. O sistema de testes inclui um circuito impresso e um aparato de testagem. O circuito impresso inclui uma pluralidade de condutores e uma pluralidade de suportes de teste dispostos correspondentemente sobre a pluralidade de condutores. A superfície de cada suporte de teste compreende uma estrutura em forma de feijão formada por pasta de solda. O aparato de testagem inclui uma pluralidade de sondas. Cada sonda inclui uma cabeça de sonda e corresponde a cada suporte de teste. O circuito impresso é testado pela pluralidade de sondas em contato com a pluralidade de estruturas em forma de feijão. O diâmetro transversal de cada cabeça de sonda pode ser mais largo do que o diâmetro de cada suporte de teste.
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申请公布号 |
BRPI0900416(A2) |
申请公布日期 |
2012.05.02 |
申请号 |
BR2009PI00416 |
申请日期 |
2009.02.05 |
申请人 |
WISTRON CORPORATION |
发明人 |
TSUNG-YAO CHANG;YAO-TE HSU;CHENG-CHANG HUANG;CHIH-CHIEH CHANG;CHIEN-CHUNG YAO |
分类号 |
G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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