发明名称 sistema de teste e método de testagem do mesmo
摘要 SISTEMA DE TESTE E MéTODO DE TESTAGEM DO MESMO. Sistema de testes e um método de testagem são revelados. O sistema de testes inclui um circuito impresso e um aparato de testagem. O circuito impresso inclui uma pluralidade de condutores e uma pluralidade de suportes de teste dispostos correspondentemente sobre a pluralidade de condutores. A superfície de cada suporte de teste compreende uma estrutura em forma de feijão formada por pasta de solda. O aparato de testagem inclui uma pluralidade de sondas. Cada sonda inclui uma cabeça de sonda e corresponde a cada suporte de teste. O circuito impresso é testado pela pluralidade de sondas em contato com a pluralidade de estruturas em forma de feijão. O diâmetro transversal de cada cabeça de sonda pode ser mais largo do que o diâmetro de cada suporte de teste.
申请公布号 BRPI0900416(A2) 申请公布日期 2012.05.02
申请号 BR2009PI00416 申请日期 2009.02.05
申请人 WISTRON CORPORATION 发明人 TSUNG-YAO CHANG;YAO-TE HSU;CHENG-CHANG HUANG;CHIH-CHIEH CHANG;CHIEN-CHUNG YAO
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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