发明名称 测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法
摘要 本发明涉及测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法。根据一个实施方式,所述测试元件包括:基板,一对光学元件单元,光波导单元,检测单元和保持单元。基板具有透光性。一对光学元件单元彼此分开排列在基板主表面。光波导单元设置于基板主表面。检测单元设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面。光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧。保持单元是框架形状,且保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出。检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。
申请公布号 CN102435600A 申请公布日期 2012.05.02
申请号 CN201110252145.7 申请日期 2011.08.30
申请人 株式会社东芝 发明人 东野一郎;和田嵩辉;大宫可容子;葛西晋吾;平川雅章
分类号 G01N21/78(2006.01)I;G01N21/82(2006.01)I 主分类号 G01N21/78(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 罗菊华
主权项 测试元件,其包括:具有透光性的基板;一对光学元件单元,其彼此分开排列在基板主表面;光波导单元,其设置于基板主表面;检测单元,其设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面,光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧;以及框架形状的保持单元,所述保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出,检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。
地址 日本东京都