发明名称 |
测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法 |
摘要 |
本发明涉及测试元件,测试试剂盒,测试装置和测试方法。根据一个实施方式,所述测试元件包括:基板,一对光学元件单元,光波导单元,检测单元和保持单元。基板具有透光性。一对光学元件单元彼此分开排列在基板主表面。光波导单元设置于基板主表面。检测单元设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面。光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧。保持单元是框架形状,且保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出。检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。 |
申请公布号 |
CN102435600A |
申请公布日期 |
2012.05.02 |
申请号 |
CN201110252145.7 |
申请日期 |
2011.08.30 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
东野一郎;和田嵩辉;大宫可容子;葛西晋吾;平川雅章 |
分类号 |
G01N21/78(2006.01)I;G01N21/82(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/78(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
罗菊华 |
主权项 |
测试元件,其包括:具有透光性的基板;一对光学元件单元,其彼此分开排列在基板主表面;光波导单元,其设置于基板主表面;检测单元,其设置于光学元件单元之间的光波导单元的主表面,光波导单元的主表面是接触基板的侧的对侧;以及框架形状的保持单元,所述保持单元的一端设置为从检测单元的主表面突出,检测单元包括发色剂及保持所述发色剂的膜形成体。 |
地址 |
日本东京都 |