发明名称 |
Flash存储芯片总线信号分析工具 |
摘要 |
本发明公开了一种Flash存储芯片总线信号分析工具,其特征在于,它主要由Flash总线信号采样单元、Flash总线信号分析单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元组成。所述Flash总线信号采样单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号分析单元相连。所述Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号显示单元相连。本发明相比使用传统测试工具,在分析Flash存储芯片总线信号方面,有了很大的进步和显著的优点。搭建分析环境十分简便,操作简单、方便,存储深度大。 |
申请公布号 |
CN101383191B |
申请公布日期 |
2012.05.02 |
申请号 |
CN200810121736.9 |
申请日期 |
2008.10.27 |
申请人 |
矽谷晶量半导体(杭州)有限公司 |
发明人 |
骆建军;陶航;陈丽娜 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 33200 |
代理人 |
周烽 |
主权项 |
一种Flash存储芯片总线信号分析工具,其特征在于,它主要由Flash总线信号采样单元、Flash总线信号分析单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元组成;所述Flash总线信号采样单元、Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号分析单元相连;所述Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元分别与Flash总线信号显示单元相连;其中,所述Flash总线信号采样单元为测试探头,通过这些测试探头连接到被分析对象的Flash总线信号上进行采样,并且将Flash总线信号实时地送到Flash总线信号分析单元;所述Flash总线信号分析单元将Flash总线信号采样单元送过来的信号分析、解释成Flash的命令、地址、数据总线信息,所述Flash总线信号分析单元主要由Flash接口协议模块和接口信号判定模块组成;Flash总线信号采样单元将采样信号送入Flash总线信号分析单元的接口信号判定模块,该模块每次从Flash接口协议模块读取一个信号序列,和采样信号进行比对,如果采样信号和所有存储在Flash接口协议模块中的信号序列都不一致,则认为该采样信号不符合Flash接口协议;否则认为该采样信号符合Flash接口协议,并将采样信号作为分析结果送给Flash总线信号显示单元、Flash总线信号存储单元和Flash擦除均衡性分析单元;所述Flash总线信号显示单元将Flash总线信号分析单元分析完成的数据显示出来;所述Flash总线信号存储单元将Flash总线信号按文件的形式存储到存储介质上;所述Flash擦除均衡性分析单元用于分析Flash存储芯片的每个块在应用过程中擦除的均匀度。 |
地址 |
310013 浙江省杭州市西湖区万塘路317号华星世纪大楼201室 |