发明名称 探测的测试器及利用其之晶圆测试方法
摘要 在此揭露的是探测测试器及利用该测试器的晶圆测试方法。该探测测试器包括夹盘、复数个支撑销以及真空装置。该夹盘被配置成其上安置有该晶圆,并且设置有复数个相对于其上表面而垂直贯通其的贯通孔。该复数个支撑销系位于夹盘之下,且设置有从其上端至下端所形成的真空孔,并且被设置在与该复数个贯通孔相对应的位置上。该真空装置系被配置以在该复数个真空孔内形成真空状态,使得晶圆被吸引并且保持在该复数个支撑销的上端。
申请公布号 TWI363180 申请公布日期 2012.05.01
申请号 TW096147895 申请日期 2007.12.14
申请人 赛科隆股份有限公司 南韩 发明人 金孟权;陈前镐;崔琪旭;崔秀贤
分类号 G01R1/04;G01R31/303 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 南韩