发明名称 СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ
摘要 1. Система измерения характеристик оптоэлектронных устройств, содержащая осветитель; по меньшей мере, один тест-объект; по меньшей мере, два пространственно разнесенных светочувствительных датчика, установленных в плоскости тест-объекта и соединенных с устройством управления освещенностью, которое соединено с осветителем; испытуемое оптоэлектронное съемочное устройство, соединенное с системой обработки данных, которая соединена с устройством управления освещенностью, при этом предметная плоскость объектива испытуемого оптоэлектронного съемочного устройства совпадает с плоскостью тест-объекта, причем устройство управления освещенностью выполнено с возможностью изменения уровня освещенности тест-объекта, а также с возможностью контроля равномерности освещенности тест-объекта, при этом получения заданного значения освещенности тест-объекта, отправки соответствующего управляющего сигнала в осветитель, корректировки этого управляющего сигнала в соответствии с сигналом обратной связи об освещенности тест-объекта от светочувствительных датчиков и измерения реального установившегося значения уровня освещенности тест-объекта; при этом испытуемое оптоэлектронное съемочное устройство выполнено с возможностью съемки тест-объекта и передачи данных съемки в систему обработки данных, выполненную с возможностью определения характеристик испытуемого оптоэлектронного съемочного устройства на основе данных съемки и значений уровня освещенности тест-объекта. ! 2. Система по п.1, отличающаяся тем, что дополнительно содержит рассеиватель, расположенный перед осветителем. ! 3. Система по п.2, отличающаяся
申请公布号 RU115478(U1) 申请公布日期 2012.04.27
申请号 RU20110151313U 申请日期 2011.12.16
申请人 发明人
分类号 G01M11/02 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
地址