一种平板探测器的监控与校正方法

摘要

本发明公开了一种平板探测器的监控与校正方法，在平板探测器射线接收窗一侧安装一金属条，获取暗场图像和坏像素模板图像，采集多幅空白照射图像，合成一幅后减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；照射被检测物体得到图像S0(x，y)；进行暗场校正得到图像S1(x，y)；进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S2(x，y)；得到图像S3(x，y)＝ln[S′(x，y)/S2(x，y)]；利用坏像素模板图像，对图像S3(x，y)进行坏像素校正。本发明提供的方法可以监控平板探测器全使用周期中的暗场图像波动并进行简便校正，无需生成增益校正图像，并去除了常规的增益校正步骤，可直接计算得到用于后续应用的数字图像。

主权项

1.一种平板探测器的监控与校正方法，其特征在于包括下述步骤：(1)在平板探测器射线接收窗的一侧，安装一金属条，该金属条垂直于暗场波动条纹，且可使平板探测器输出图像的若干列或行得到良好的射线屏蔽；(2)根据检测需求选取平板探测器工作模式，按照多幅叠加平均的方法获取暗场图像，按照基于统计信息分析的方法获取坏像素模板图像；(3)根据检测需求选取射线照射参数，采集多幅不含被检测物体的空白照射图像，并将这些图像各个像素点对应像素灰度相加并平均，得到一幅空白照射图像，再按对应像素灰度相减的方法，从该幅空白照射图像中减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；(4)按选定平板探测器工作模式和射线照射参数照射被检测物体，得到图像S₀(x，y)；(5)按对应像素灰度相减的方法，从图像S₀(x，y)中减去暗场图像，完成暗场校正，得到图像S₁(x，y)；(6)进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S₂(x，y)；所述平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算步骤如下：a)计算暗场图像像素灰度均值P和灰度标准方差T；b)取T′＝(1.1～1.3)T，得到暗场图像波动的下限E₁＝P-T′和暗场图像波动的上限E₂＝P+T′；c)将图像S₀(x，y)中屏蔽的N列或N行，采用按行像素灰度累加平均或按列像素灰度累加平均的方法，平均成1列或1行，记为d)查找中像素灰度的最大值和最小值e)判断：若且则认为图像S₀(x，y)是稳定的，无需进行暗场波动校正；否则图像S₀(x，y)存在暗场异常波动，此时对中的像素灰度进行逐个判断，若第i个像素灰度超出暗场图像波动的上限或下限，设其暗场波动量将S₁(x，y)中第i行或第i列的所有像素灰度均减去(7)按S₃(x，y)＝ln[S′(x，y)/S₂(x，y)]计算，得到图像S₃(x，y)；(8)利用坏像素模板图像，按邻域正常像素平均或插值的方法对图像S₃(x，y)进行坏像素校正。