发明名称 |
复杂曲面微缺陷的阵列超声检测技术 |
摘要 |
本发明涉及一种快速化检测复杂曲面构件内部微细小缺陷的阵列超声检测技术,可应用于航空、航天、武器、汽车、医疗等领域。本发明通过对复杂曲面构件的上下表面同时设置换能器且不同曲率部分设置不同数量换能器的方法,使超声传感器有效作用范围覆盖构件需要检测的所有部位。采用计算机技术控制传感器阵列快速提取复杂曲面构件内部信息,能够极大地提高检测效率,克服传统单探头扫描检测效率低、采集信息量少的弊端,有效提高对复杂曲面构件内部缺陷的检测精度。 |
申请公布号 |
CN102426194A |
申请公布日期 |
2012.04.25 |
申请号 |
CN201110360389.7 |
申请日期 |
2011.11.15 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
徐春广;李喜朋;刘钊;肖定国;潘勤学;孟凡武;周世圆;赵新玉;郝娟;宋文涛;曹现东 |
分类号 |
G01N29/04(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种快速化检测复杂曲面微缺陷的阵列超声检测技术,其特征在于:对复杂曲面构件的上下表面同时设置换能器且不同曲率部分设置不同数量的换能器,采用计算机技术控制传感器阵列快速提取复杂曲面构件内部超声波信息。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |