发明名称 |
一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。 |
申请公布号 |
CN102426307A |
申请公布日期 |
2012.04.25 |
申请号 |
CN201110277713.9 |
申请日期 |
2011.09.19 |
申请人 |
工业和信息化部电子第五研究所 |
发明人 |
路国光;黄云;杨少华;雷志锋;冯敬东 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 44202 |
代理人 |
何传锋;程跃华 |
主权项 |
一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,其特征在于,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。 |
地址 |
510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号 |