发明名称 一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法
摘要 本发明公开了一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。
申请公布号 CN102426307A 申请公布日期 2012.04.25
申请号 CN201110277713.9 申请日期 2011.09.19
申请人 工业和信息化部电子第五研究所 发明人 路国光;黄云;杨少华;雷志锋;冯敬东
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 何传锋;程跃华
主权项 一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,其特征在于,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。
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