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发明名称 Verfahren zur spektrochemischen Bestimmung von kleinen Anteilen von Fremdelementen in Metallen,insbesondere in Kupfer
摘要
申请公布号 DE1498991(A1) 申请公布日期 1970.02.19
申请号 DE1963S086907 申请日期 1963.08.27
申请人 SIEMENS AG 发明人 KLEIST,HARALD
分类号 G01N21/67 主分类号 G01N21/67
代理机构 代理人
主权项
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